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日本日置 电池测试仪 BATTERY HiTESTER BT3562    
日本日置 电池测试仪 BATTERY HiTESTER BT3562
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
可直接测量高达300V的电压（BT3563） 用于检查高电压电池组/电池单元的生产线 大型（低电阻）电池单元检查 多种接口可用于高速自... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 打印机 DIGITAL PRINTER 9203    
日本日置 打印机 DIGITAL PRINTER 9203
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
打印已存储数据的得力工具 •无论在固定时间间隔还是手动指令，都可以打印出测量数据 •自动实现诸如标准偏差计算和直方图的统计处理 基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 交流微电阻计AC mΩ HiTESTER 3560    
日本日置 交流微电阻计AC mΩ HiTESTER 3560
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
测试种类从接触电阻至内阻和电池电压 •快速响应约84ms（60Hz） •低功率电阻测量 •电池测量 •高分辨率（30mΩ量程下为1μΩ） 基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 微电阻计 mΩ HiTESTER 3540    
日本日置 微电阻计 mΩ HiTESTER 3540
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
提供可选手动测试或系统应用测试 •4端子方法测量mΩ电阻（快速100ms响应） •比较器功能最多存储7组表格 •温度补偿功能，测量温度并根据铜来计算20℃以下的对应值。 3540是没有外部控制接口的低价格版本，用于手动测... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 电阻计 RESISTANCE HiTESTER 3541    
日本日置 电阻计 RESISTANCE HiTESTER 3541
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计 •广范围测量 最低0.1μΩ（20.00mΩ），最高110MΩ •快速采样,最快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异) •补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 电阻计 RM3542    
日本日置 电阻计 RM3542
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
•实现了自动化系统中所要求的速度和高精度 •双重检查功能保证准确接触，实现可靠性测试 •可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量 •可用于制造工程中手动的取样检查 单元中不包含试验夹具。请在购... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-40    
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-40
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 •对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 •3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-50    
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-50
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 •对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 •3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-60    
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-60
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 •对应... [查看更多] [查看企业信息]
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3506    
日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3506
产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 •反复测量精度更高，最适合生产线 •校正维修功能，减低由环境的温度变化影响 •测量导线的过长引起的阻抗变化，阻抗补正功能 •比测仪的设定值和测定值的同步显示 •2ms... [查看更多] [查看企业信息]