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日本日置 交流微电阻计AC mΩ HiTESTER 3560
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
测试种类从接触电阻至内阻和电池电压 •快速响应约84ms(60Hz) •低功率电阻测量 •电池测量 •高分辨率(30mΩ量程下为1μΩ) 基本参数 ...
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日本日置 微电阻计 mΩ HiTESTER 3540
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
提供可选手动测试或系统应用测试 •4端子方法测量mΩ电阻(快速100ms响应) •比较器功能最多存储7组表格 •温度补偿功能,测量温度并根据铜来计算20℃以下的对应值。 3540是没有外部控制接口的低价格版本,用于手动测...
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日本日置 电阻计 RESISTANCE HiTESTER 3541
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计 •广范围测量 最低0.1μΩ(20.00mΩ),最高110MΩ •快速采样,最快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异) •补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功...
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日本日置 电阻计 RM3542
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
•实现了自动化系统中所要求的速度和高精度 •双重检查功能保证准确接触,实现可靠性测试 •可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量 •可用于制造工程中手动的取样检查 单元中不包含试验夹具。请在购...
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日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-40
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 •对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能 •3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体...
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日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-50
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 •对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能 •3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体...
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日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-60
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 •对应...
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日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3506
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 •反复测量精度更高,最适合生产线 •校正维修功能,减低由环境的温度变化影响 •测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能 •比测仪的设定值和测定值的同步显示 •2ms...
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日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3505
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 •反复测量精度更高,最适合生产线 •校正维修功能,减低由环境的温度变化影响 •测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能 •比测仪的设定值和测定值的同步显示 •2ms...
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日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3511-50
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
精巧,非常专业,5ms快速测量LCR •高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) •高精度: ± 0.08% •内置比较器 输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件 ...
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日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3522-50
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
低价及更好的功用和性能 DC, 1 mHz~100 kHz更宽范围的测量频率 •5ms高速测量的LCR计 •宽频量程(DC或1mHz~100kHz) •测量14种参数(高分辨率和高精度) •DC电阻测量 输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量...
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日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3532-50
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 •测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 •可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来 输入用探头/测...
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日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3535
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
高速LCR仪,采样率可高至120MHz •100kHz~120MHz的宽频带 •高速LCR测试(6ms/采样) •拆卸式前置放大器可选择 •为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能 放大器单元(9700-10)是工厂生产线的选择,为订货的...
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日本日置 阻抗分析仪 IM3570
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 •1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 •LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 •基本精度±0.08%的高精度测量 •适用于压电元件...
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日本日置 信号源 SIGNAL SOURCE 7016
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
同时操控信号产生与测量 •多用途的测试器 •能够校验工业设备 •产生宽幅的信号源并满足电子回路和设备的测试要求 基本参数 ...
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日本日置 直流信号源 DC SIGNAL SOURCE SS7012
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
信号发生和测量可同时进行 •与 HIOKI 之前的产品相比较,提高了稳定性的同时降低了成本 •用于测量设备系统 (4 - 20 mA) 和回路测试 •检查温度控制设备和配电情况 •可发生8种不同的热电偶信号 •是电力设备...
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日本日置 任意波形发生器 WAVEFORM GENERATOR 7075-01
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
搭配扫描功能的4通道任意波形发生器 全通道独立设定、...
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日本日置 任意波形发生器 WAVEFORM GENERATOR 7075
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
搭配扫描功能的4通道任意波形发生器 全通道独立设定、...
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日本日置 通讯仪 COMMUNICATION BASE 3911-20
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月12日
在电脑上分析及处理数据 用于将数据传送到电脑中,它能容纳16通道16,000点数据或8通道32,000点数据它从多个记...
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日本日置 通讯仪 COMMUNICATION BASE 3912-20
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月12日
在电脑上分析及处理数据 用于将数据传送到电脑中,它能容纳16通道16,000点数据或8通道32,000点数据它从多个记录器收集数据,...
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