品质管理

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3415-01

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

非接触的、轻巧、快速温度测量 •广范围的测量量程，非接触的快速测量/1.5s（95%） •按钮式测量，手离开按钮，测量值被自动保持 •2束激光标记和点标记显示测量范围（实际视野） •异常温度监测时，激光闪烁且峰鸣器鸣叫 &bul... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3416-01

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

非接触的、轻巧、快速温度测量 •广范围的测量量程，非接触的快速测量/1.5s（95%） •按钮式测量，手离开按钮，测量值被自动保持 •2束激光标记和点标记显示测量范围（实际视野） •异常温度监测时，激光闪烁且峰鸣器鸣叫 &bul... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置红外测温仪 INFRARED THERMO HiTESTER 3419-20

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

手枪式设计，使测量更加便捷 ! •手枪式设计，简洁显示屏 •丰富的测量功能 •适用于各类场合，较难测量的位置、动态物体或者有触电危险的地方基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3443

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

对应温度控制、管理的放射温度计 •0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度 •可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54） •用3909接口卡，实现高效率PC计测 •用专用软件（包含于3909），处理/管理数据 •... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3444

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

对应温度控制、管理的放射温度计 •0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度 •可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54） •用3909接口卡，实现高效率PC计测 •用专用软件（包含于3909），处理/管理数据 •... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3445

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

对应温度控制、管理的放射温度计 •0.1分辨率，正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度 •可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造（IP54） •用3909接口卡，实现高效率PC计测 •用专用软件（包含于3909），处理/管理数据 •... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3441

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

支持客户在各种温度管理上的应用(-100℃～1300℃) •-100℃~199.9℃/0.1℃分辨率，200℃～1300℃/1℃分辨率 •使用记录功能，记录最大、最小值仅本机不能测量，请选购相应温度探头基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3442

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

支持客户在各种温度管理上的应用(-100℃～1300℃) •防湿 •-100℃～199.9℃/0.1℃分辨率，200℃～1300℃/1℃分辨率 •使用记录功能，记录最大、最小值基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3446-01

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

适于节能、HACCP对策的温度记录和管理 •K型热电偶(1通道) •比较判定，支持PC管理 •利用PC进行温度管理仅本机不能测试，请选购相应的温度探头基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置温度计 TEMPERATURE HiTESTER 3447-01

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月16日

适于节能、HACCP对策的温度记录和管理 •Pt100(2通道)，防水 •比较判定，支持PC管理 •利用PC进行温度管理仅本机不能测试，请选购相应的温度探头基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置电池测试仪 BATTERY HiTESTER 3561

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

测量锂电池电压和内阻 •高精度:电阻±0.5% rdg. ±5dgt., 电压±0.01% rdg. ±3dgt. •高分辨率:电阻0.01mΩ(300mΩ量程); 电压0.1mV(20V量程) •高速10ms以内同时测量内阻和电压 &b... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置电池测试仪 BATTERY HiTESTER BT3562

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

可直接测量高达300V的电压（BT3563）用于检查高电压电池组/电池单元的生产线大型（低电阻）电池单元检查多种接口可用于高速自... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置打印机 DIGITAL PRINTER 9203

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

打印已存储数据的得力工具 •无论在固定时间间隔还是手动指令，都可以打印出测量数据 •自动实现诸如标准偏差计算和直方图的统计处理基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置交流微电阻计AC mΩ HiTESTER 3560

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

测试种类从接触电阻至内阻和电池电压 •快速响应约84ms（60Hz） •低功率电阻测量 •电池测量 •高分辨率（30mΩ量程下为1μΩ）基本参数 ... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置微电阻计 mΩ HiTESTER 3540

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

提供可选手动测试或系统应用测试 •4端子方法测量mΩ电阻（快速100ms响应） •比较器功能最多存储7组表格 •温度补偿功能，测量温度并根据铜来计算20℃以下的对应值。 3540是没有外部控制接口的低价格版本，用于手动测... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置电阻计 RESISTANCE HiTESTER 3541

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计 •广范围测量最低0.1μΩ（20.00mΩ），最高110MΩ •快速采样,最快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异) •补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置电阻计 RM3542

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

•实现了自动化系统中所要求的速度和高精度 •双重检查功能保证准确接触，实现可靠性测试 •可用于集成电路片电感器和EMC对应零件的低能耗电阻测量 •可用于制造工程中手动的取样检查单元中不包含试验夹具。请在购... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-40

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 •对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 •3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-50

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 •对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 •3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体... [查看更多] [查看企业信息]

日本日置 C测试仪 C HiTESTER 3504-60

产地：亚洲-日本|更新日期：2011年5月13日

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 •高速测量2ms •能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 •对应... [查看更多] [查看企业信息]

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