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日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3522-50
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
低价及更好的功用和性能 DC, 1 mHz~100 kHz更宽范围的测量频率 •5ms高速测量的LCR计 •宽频量程(DC或1mHz~100kHz) •测量14种参数(高分辨率和高精度) •DC电阻测量 输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量...
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日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3532-50
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 •测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 •可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来 输入用探头/测...
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日本日置 LCR测试仪 LCR HiTESTER 3535
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
高速LCR仪,采样率可高至120MHz •100kHz~120MHz的宽频带 •高速LCR测试(6ms/采样) •拆卸式前置放大器可选择 •为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能 放大器单元(9700-10)是工厂生产线的选择,为订货的...
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日本日置 阻抗分析仪 IM3570
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 •1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 •LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 •基本精度±0.08%的高精度测量 •适用于压电元件...
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日本日置 信号源 SIGNAL SOURCE 7016
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
同时操控信号产生与测量 •多用途的测试器 •能够校验工业设备 •产生宽幅的信号源并满足电子回路和设备的测试要求 基本参数 ...
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日本日置 直流信号源 DC SIGNAL SOURCE SS7012
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
信号发生和测量可同时进行 •与 HIOKI 之前的产品相比较,提高了稳定性的同时降低了成本 •用于测量设备系统 (4 - 20 mA) 和回路测试 •检查温度控制设备和配电情况 •可发生8种不同的热电偶信号 •是电力设备...
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日本日置 任意波形发生器 WAVEFORM GENERATOR 7075-01
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
搭配扫描功能的4通道任意波形发生器 全通道独立设定、...
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日本日置 任意波形发生器 WAVEFORM GENERATOR 7075
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月13日
搭配扫描功能的4通道任意波形发生器 全通道独立设定、...
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日本日置 通讯仪 COMMUNICATION BASE 3911-20
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月12日
在电脑上分析及处理数据 用于将数据传送到电脑中,它能容纳16通道16,000点数据或8通道32,000点数据它从多个记...
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日本日置 通讯仪 COMMUNICATION BASE 3912-20
产地:亚洲-日本
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更新日期:2011年5月12日
在电脑上分析及处理数据 用于将数据传送到电脑中,它能容纳16通道16,000点数据或8通道32,000点数据它从多个记录器收集数据,...
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